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  • 产品名称：HORIBA堀场X射线荧光分析仪

  • 产品型号：MESA-50K
  • 产品厂商：HORIBA堀场
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简单介绍：
为了满足 RoHS/ELV 测试和分析有害元素，HORIBA 提供了 X 射线荧光分析仪 XGT-1000WR 系列。 自 2002 年以来，全球已有 1000 台仪器用于这些应用，以满足客户在不切割样品的情况下分析样品的关键需求。 2012 年，HORIBA发布了直观便捷的 MESA-50 X射线荧光分析仪，在很短的时间内变得非常流行，2013 年，MESA-50 系列增加了一种带有大样品室的新型 MESA-50K, 它配备了无需液氮的精密检测器，As/Sb 分析功能和多层膜FPM 可作为可选功能。
详情介绍：




 基本规格 原理 能量色散型X射线荧光光谱
应用领域 RoHS, ELV, 无卤
测量元素 13Al - 92U
样品类型 固态，液态，粉末
X 射线发生装置

  		X 射线管 50Kv(*高)，0.2mA
X 射线分析直径 1.2mm, 3mm, 7mm（自动切换）
X 射线一次滤光片 4种（自动切换）
检测器
  		类型 SDD (硅漂移检测器)
信号处理器 DPP (数字脉冲处理器)
样品室 环境 大气
样品观察 CDD 相机
样品仓尺寸 460 x 360 x 150 mm [W x D x H]
设备 操作系统 电脑 (Windows® 7)
供电 AC适配器（100-240V, 50/60Hz）
仪器尺寸   590 x 590 x 400 mm [W x D x H]
重量   60 kg
软件 分析功能

多层膜 FPM法（可选）

Sb/As 分析（可选）
scrollable

＊Windows 是微软公司的注册商标。




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