替代更换金属卤素灯,线性光导线照射架构

AITEC艾泰克LLR系列
搭载独有技术FAN冷却机构，同时实现基材SLIM高辉度化
超高性价比，FAN冷却STAND MODEL
采用高辉度LED发光体，独自开发之光学系统，散热结构的直线式光源
替代更换金属卤素灯，线性光导线照射架构
在狭窄的空间中也可以设置，确保高辉度照射下的高速外观检查

圆筒型金属部品的伤痕检查，很多光源受限于金属表面的光泽影响，很难检出伤痕，采用直线型照明，进行低角度照射，快速检出伤痕！集光LENS-UNIT,确保对摄像对象部进行PINPOINT照射，可以令多余的散光得以大大降低

用途：钢板检查，液晶面板检查，玻璃检查，sheet检查，金属表面检查，EDGE检查，线阵相机用光源，目视检查用光源，高精度图像处理用光源

LLR138F*21-106*
LLR238F*21-106*
LLR338F*21-106*
LLR438F*21-106*
LLR538F*21-106*
LLR638F*21-106*
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半导体 液晶基板 彩色滤镜 玻璃基板 电子基板 高机能Film 印刷
无花纹Sheet 薄膜/胶片 造纸 无纺布 各种布料 无色玻璃 铁板 钢板

①高照度照射光源制作对应可（～600万Lx）
②无缝式超长尺寸照射光源制作对应可
③电控1台即可对应制长尺寸?高照度照射光源的制御（～7.5kW）
④灵活对应各式客制化制作要求（输出缆线位置变更?搭载扩散板规格变更等）
※照射光源系列不同，相应对应有所相异，敬请随时联络弊司进行确认。

机器视觉在半导体行业的应用也非常普遍，涉及到半导体外观缺陷，尺寸大小，数量，平整度，间距，定位，焊点质量，弯曲度等的检测和测量。
检测内容包括：高精度晶圆缺陷检测；晶圆划片定位与尺寸测量；IC封装定位，外观检测；硬盘支架尺寸测量，倒角检测；硬盘盘片划伤，异物检测；
IC引脚平整度检测等

AITEC艾泰克LLRM-F系列-长距离照射，防止对立体工件的接触干扰
LLRM150F*50-108*
LLRM250F*50-108*
LLRM350F*50-108*
LLRM450F*50-108*
LLRM550F*50-108*
LLRM650F*50-108*
LLRM750F*50-108*
LLRM850F*50-108*
LLRM950F*50-108*
LLRM1050F*50-108*

更进一步之高照度：自然放热式需求（FAN冷或水冷 NG之环境）
?高均一：分解能在0.1mm以下的检查、淡薄的污渍等浓淡差相对较低的检查
?平行光：表面型浅伤等的检查（清晰的进行取像）

长/短距离照射全方位对应性机材
搭载技术光学构造，实现模拟平行光照射
直线式光源，采用高辉度LED发光体，搭载独自开发之光学系统和散热结构
替代更换金属卤素灯，线性光导缆照射架构
内置技术所开发集光可变机构，仅需一台机材即可完全实现模拟平行照射，集光照射幅度的多范围变化要求的LED直线照射式光源

实例：饮料罐的饮用口检查，通过扩散光环型照明，对立体圆筒部进行一枚成像处理，使刮痕容易检出